測試項目 | 測試能力 | 測試項目 | 測試能力 |
傳導騷擾(CE) | 20Hz-108MHz | 低頻磁場抗擾度 | 10Hz-250kHz,180 dBuA/m |
輻射騷擾(RE) | 20Hz-6GHz | 耦合傳導抗干擾 | ISO7637-3 |
瞬態傳導騷擾 | DC1000V,2GHz/s | 高低壓耦 | 150KHz-108MHz |
低頻磁場騷擾測試(ME) | 10Hz-200KHz | 浪涌(沖擊)抗擾度 | ±0.5KV-±6KV |
低頻電磁場發射測試 | 9kHz-30MHz | 高低壓耦 HV to LV | 150KHz-108MHz |
大電流注入(BCI) | 10kHz-400MHz:300mA | 浪涌(沖擊)抗擾度 | ±0.5KV-±6KV |
電波暗室法輻射抗擾度(RI) | 10kHz-6GHz:200V/m | 電快速瞬變脈沖群抗擾度 | ±0.5KV-±4KV |
靜電放電抗擾度(ESD) | -30kV-30kV | 交流AC端諧波發射 | 單相32A,三相75A |
手持發射設備輻射抗擾度 | 26MHz-6GHz,50W | 交流AC端電壓波動和閃爍 | 單相32A,三相75A |
瞬態傳導抗干擾 | ISO7637-2 pulse1-5b | ISO7637-4 | 脈沖B、C |